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谷城機械密封失效、液膜空化與密封檢測

發(fa)布時間:2022-01-06 10:35:45 人氣:116998 來源:

  一、谷城機械密封失效


  對于谷城機械密封元件來說,使用平均壽命為2~3年,谷城機械密封失效會降低試件的使用壽命。失效主要原因為動環與靜環的擠壓磨損故障。谷城機械密封失(shi)效原因包(bao)括化學損(sun)壞(huai)(huai)、熱(re)損(sun)壞(huai)(huai)和(he)機械損(sun)壞(huai)(huai),表現為磨損(sun)、腐蝕和(he)過熱(re)等(deng)。


  密封沖洗系統存在的問題及密封腔溫度過高是造成谷城機械密封失效的主要原因,應及時進行工件檢測(壓力、溫度、磨損)、維護管理,改善工作環境。主要的問題有:壽命難以預測、突發性失效等,摩擦谷城機械密封的(de)實際磨損(sun)情(qing)況和(he)端面狀(zhuang)態還未得到有效的(de)解(jie)釋研究。


  二、液膜空化


  液(ye)膜(mo)(mo)是(shi)端面間維持一層(ceng)極(ji)薄(bo)的(de)(de)液(ye)體膜(mo)(mo),具(ju)有密封的(de)(de)作用,同時具(ju)有液(ye)膜(mo)(mo)動(dong)壓力(li)與靜壓力(li),起到平(ping)衡壓力(li)潤滑端面作用。液(ye)膜(mo)(mo)空(kong)化(hua)(hua)指液(ye)膜(mo)(mo)局部(bu)氣化(hua)(hua)形成氣泡,進一步產生(sheng)空(kong)蝕。液(ye)膜(mo)(mo)空(kong)化(hua)(hua)的(de)(de)產生(sheng)對(dui)液(ye)膜(mo)(mo)壓力(li)的(de)(de)載荷、分(fen)(fen)布及穩(wen)定性有較大影響。密封界面間膜(mo)(mo)厚(hou)分(fen)(fen)布說明密封端面綜合變(bian)形在徑向上不是(shi)線性分(fen)(fen)布。


  對于液膜空化的研究:空化現象在一定程度上存在,這是端面張開的重要原因,對減少端面泄漏和摩擦有一定作用。李振濤等基于JFO空化模型和坐標變換建立其數學模型,并利用有限體積法離散解,表明空化壓力的增加可以提高液膜承載力,但增加幅度較小,對摩擦力矩的影響可以忽略。然而,在液膜發生嚴重氣蝕時,會導致流體動力潤滑失效和壁面氣蝕,影響密封性能和密封材料的使用壽命。孟祥凱等分析了擾動條件下空化對谷城機械密封動力學的影響。劉鳴等基于馬爾可夫空化算法求解了考慮空化效應的動載滑動軸承液膜動態特性,證實了空化因子會影響液膜的動態特性。谷城機械密封空化的理論模(mo)型和實(shi)驗(yan)研究還很不(bu)成(cheng)熟和完(wan)善(shan)。為了有效(xiao)控(kong)制(zhi)氣(qi)蝕程度,提(ti)高(gao)密封性能,避免氣(qi)蝕引起的失效(xiao)和氣(qi)蝕,必須深入研究氣(qi)蝕的影(ying)響因(yin)素(su)及其相互關(guan)系。

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  三、密封檢測


  由于谷城機械密封件(jian)裝配復(fu)雜,不(bu)能多次拆(chai)卸,如何(he)在(zai)不(bu)影響作業(ye)前提下(xia)進(jin)(jin)行(xing)(xing)(xing)(xing)密(mi)(mi)(mi)封檢測(ce)(ce)。首(shou)先,要(yao)明確發生泄漏(lou)的(de)(de)幾(ji)個(ge)常(chang)見(jian)階(jie)段:測(ce)(ce)試時的(de)(de)泄漏(lou)量(liang)、運(yun)(yun)轉(zhuan)時的(de)(de)周期(qi)性(xing)泄漏(lou)量(liang)、突發情(qing)況(kuang)時的(de)(de)泄漏(lou)量(liang)。對于密(mi)(mi)(mi)封的(de)(de)檢測(ce)(ce),主要(yao)通過振動(dong)信號頻(pin)譜(pu),從外部(bu)檢測(ce)(ce)內部(bu)的(de)(de)壓(ya)(ya)(ya)力(li)溫度變(bian)化(hua),在(zai)使用前工件(jian)運(yun)(yun)行(xing)(xing)(xing)(xing)的(de)(de)參(can)數(shu)要(yao)在(zai)規定值以下(xia),并監測(ce)(ce)回轉(zhuan)體(ti)(ti)本身偏差在(zai)運(yun)(yun)轉(zhuan)中引起(qi)的(de)(de)滲漏(lou),有(you)必要(yao)了解操(cao)作條(tiao)(tiao)件(jian)、溫度、壓(ya)(ya)(ya)力(li)等(deng)(deng),以及對輔助密(mi)(mi)(mi)封膨脹的(de)(de)具(ju)體(ti)(ti)影響。依據(ju)密(mi)(mi)(mi)封介(jie)質(zhi)的(de)(de)形(xing)狀(zhuang)(zhuang)、狀(zhuang)(zhuang)態和(he)工作條(tiao)(tiao)件(jian)進(jin)(jin)行(xing)(xing)(xing)(xing)選擇后,制定相應(ying)的(de)(de)操(cao)作規程,規定沖(chong)洗時間、介(jie)質(zhi)和(he)溫度控(kong)制范(fan)圍。試運(yun)(yun)行(xing)(xing)(xing)(xing)過程中,根(gen)據(ju)試運(yun)(yun)行(xing)(xing)(xing)(xing)效(xiao)果進(jin)(jin)行(xing)(xing)(xing)(xing)合(he)理的(de)(de)參(can)數(shu)調整(zheng),在(zai)端面間通過氣(qi)壓(ya)(ya)(ya)或循環液進(jin)(jin)行(xing)(xing)(xing)(xing)密(mi)(mi)(mi)封檢測(ce)(ce);可(ke)結(jie)合(he)關閉泵(beng)的(de)(de)閥(fa)門(men)形(xing)成封閉腔室進(jin)(jin)行(xing)(xing)(xing)(xing)密(mi)(mi)(mi)封測(ce)(ce)試。引入有(you)限差分法(fa)、有(you)限元、流體(ti)(ti)力(li)學等(deng)(deng)方(fang)法(fa)進(jin)(jin)行(xing)(xing)(xing)(xing)模(mo)擬測(ce)(ce)試。實際檢測(ce)(ce)方(fang)法(fa)有(you)熱(re)電偶測(ce)(ce)溫法(fa)(溫度)、微型壓(ya)(ya)(ya)力(li)傳感(gan)器(qi)(壓(ya)(ya)(ya)力(li))、電容(rong)法(fa)(間隙)。在(zai)正常(chang)運(yun)(yun)行(xing)(xing)(xing)(xing)狀(zhuang)(zhuang)態下(xia)繼續觀察密(mi)(mi)(mi)封效(xiao)果和(he)存在(zai)的(de)(de)問(wen)題,進(jin)(jin)一步進(jin)(jin)行(xing)(xing)(xing)(xing)調整(zheng),充分考(kao)(kao)慮(lv)各(ge)種因(yin)素,綜合(he)分析介(jie)質(zhi)、壓(ya)(ya)(ya)力(li)、密(mi)(mi)(mi)封面、密(mi)(mi)(mi)封形(xing)式等(deng)(deng)條(tiao)(tiao)件(jian)。根(gen)據(ju)磨損痕(hen)跡(ji)分析故障(zhang)原(yuan)因(yin),并考(kao)(kao)慮(lv)腐(fu)蝕、橡膠密(mi)(mi)(mi)封圈失效(xiao)等(deng)(deng)因(yin)素。