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發布時(shi)間(jian):2022-01-06 10:35:45 人氣(qi):121701 來源(yuan):
一、連山機械密封失效
對于連山機械密封元件來說,使用平均壽命為2~3年,連山機械密封失效會降低試件的使用壽命。失效主要原因為動環與靜環的擠壓磨損故障。連山機械密封失效原因包括(kuo)化學損(sun)(sun)壞、熱(re)損(sun)(sun)壞和機械損(sun)(sun)壞,表現為磨損(sun)(sun)、腐蝕和過(guo)熱(re)等。
密封沖洗系統存在的問題及密封腔溫度過高是造成連山機械密封失效的主要原因,應及時進行工件檢測(壓力、溫度、磨損)、維護管理,改善工作環境。主要的問題有:壽命難以預測、突發性失效等,摩擦連山機械密封的實際磨損情況和端面狀態(tai)還(huan)未得到有效的解(jie)釋(shi)研(yan)究(jiu)。
二、液膜空化
液(ye)膜(mo)(mo)(mo)(mo)(mo)是(shi)端面間(jian)維持一層極(ji)薄的液(ye)體膜(mo)(mo)(mo)(mo)(mo),具有密(mi)封(feng)(feng)的作用,同時具有液(ye)膜(mo)(mo)(mo)(mo)(mo)動壓(ya)(ya)力與靜壓(ya)(ya)力,起(qi)到平(ping)衡壓(ya)(ya)力潤滑端面作用。液(ye)膜(mo)(mo)(mo)(mo)(mo)空化指液(ye)膜(mo)(mo)(mo)(mo)(mo)局部氣化形成(cheng)氣泡,進一步產(chan)生(sheng)空蝕。液(ye)膜(mo)(mo)(mo)(mo)(mo)空化的產(chan)生(sheng)對液(ye)膜(mo)(mo)(mo)(mo)(mo)壓(ya)(ya)力的載荷、分(fen)布及穩定性有較(jiao)大影(ying)響。密(mi)封(feng)(feng)界面間(jian)膜(mo)(mo)(mo)(mo)(mo)厚分(fen)布說明密(mi)封(feng)(feng)端面綜合變形在徑(jing)向上不是(shi)線性分(fen)布。
對于液膜空化的研究:空化現象在一定程度上存在,這是端面張開的重要原因,對減少端面泄漏和摩擦有一定作用。李振濤等基于JFO空化模型和坐標變換建立其數學模型,并利用有限體積法離散解,表明空化壓力的增加可以提高液膜承載力,但增加幅度較小,對摩擦力矩的影響可以忽略。然而,在液膜發生嚴重氣蝕時,會導致流體動力潤滑失效和壁面氣蝕,影響密封性能和密封材料的使用壽命。孟祥凱等分析了擾動條件下空化對連山機械密封動力學的影響。劉鳴等基于馬爾可夫空化算法求解了考慮空化效應的動載滑動軸承液膜動態特性,證實了空化因子會影響液膜的動態特性。連山機械密封空化(hua)的(de)理(li)論(lun)模型和(he)(he)實驗研(yan)究還很不成熟和(he)(he)完善。為了有效(xiao)控制(zhi)氣(qi)蝕(shi)程度,提高密封性能(neng),避免氣(qi)蝕(shi)引(yin)起的(de)失效(xiao)和(he)(he)氣(qi)蝕(shi),必須深入研(yan)究氣(qi)蝕(shi)的(de)影(ying)響因素及其相互關系。
三、密封檢測
由于連山機械密封件(jian)裝配復(fu)雜,不能多次拆(chai)卸,如何在(zai)(zai)不影響(xiang)(xiang)作(zuo)業前提(ti)下進(jin)(jin)(jin)行(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)密(mi)(mi)封檢(jian)測。首先,要(yao)明(ming)確發(fa)生泄漏的(de)(de)(de)(de)(de)幾個常見階(jie)段:測試(shi)時(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)泄漏量(liang)、運(yun)(yun)(yun)轉時(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)周期性泄漏量(liang)、突發(fa)情況(kuang)時(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)泄漏量(liang)。對于(yu)密(mi)(mi)封的(de)(de)(de)(de)(de)檢(jian)測,主要(yao)通過振(zhen)動(dong)信號頻譜,從外(wai)部(bu)檢(jian)測內部(bu)的(de)(de)(de)(de)(de)壓(ya)(ya)(ya)力溫(wen)度(du)變(bian)化,在(zai)(zai)使(shi)用前工(gong)件(jian)運(yun)(yun)(yun)行(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)的(de)(de)(de)(de)(de)參(can)數(shu)要(yao)在(zai)(zai)規定值以(yi)下,并(bing)監測回轉體本身偏差(cha)在(zai)(zai)運(yun)(yun)(yun)轉中引(yin)起的(de)(de)(de)(de)(de)滲漏,有(you)必要(yao)了解(jie)操(cao)作(zuo)條(tiao)件(jian)、溫(wen)度(du)、壓(ya)(ya)(ya)力等(deng),以(yi)及對輔(fu)助密(mi)(mi)封膨脹的(de)(de)(de)(de)(de)具體影響(xiang)(xiang)。依據(ju)密(mi)(mi)封介質的(de)(de)(de)(de)(de)形狀、狀態和(he)工(gong)作(zuo)條(tiao)件(jian)進(jin)(jin)(jin)行(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)選擇后(hou),制定相應的(de)(de)(de)(de)(de)操(cao)作(zuo)規程(cheng),規定沖(chong)洗時(shi)(shi)間(jian)、介質和(he)溫(wen)度(du)控(kong)制范(fan)圍。試(shi)運(yun)(yun)(yun)行(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)過程(cheng)中,根據(ju)試(shi)運(yun)(yun)(yun)行(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)效果(guo)進(jin)(jin)(jin)行(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)合(he)理(li)的(de)(de)(de)(de)(de)參(can)數(shu)調整,在(zai)(zai)端面間(jian)通過氣壓(ya)(ya)(ya)或循環液進(jin)(jin)(jin)行(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)密(mi)(mi)封檢(jian)測;可(ke)結合(he)關閉(bi)泵的(de)(de)(de)(de)(de)閥門形成封閉(bi)腔室進(jin)(jin)(jin)行(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)密(mi)(mi)封測試(shi)。引(yin)入有(you)限差(cha)分法、有(you)限元、流體力學等(deng)方法進(jin)(jin)(jin)行(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)模擬測試(shi)。實際檢(jian)測方法有(you)熱電偶(ou)測溫(wen)法(溫(wen)度(du))、微型(xing)壓(ya)(ya)(ya)力傳感器(壓(ya)(ya)(ya)力)、電容(rong)法(間(jian)隙)。在(zai)(zai)正常運(yun)(yun)(yun)行(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)狀態下繼續(xu)觀察密(mi)(mi)封效果(guo)和(he)存在(zai)(zai)的(de)(de)(de)(de)(de)問題,進(jin)(jin)(jin)一步進(jin)(jin)(jin)行(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)調整,充分考(kao)(kao)慮(lv)各種(zhong)因(yin)(yin)(yin)素(su),綜合(he)分析(xi)介質、壓(ya)(ya)(ya)力、密(mi)(mi)封面、密(mi)(mi)封形式等(deng)條(tiao)件(jian)。根據(ju)磨損痕跡分析(xi)故障原因(yin)(yin)(yin),并(bing)考(kao)(kao)慮(lv)腐蝕、橡膠(jiao)密(mi)(mi)封圈失(shi)效等(deng)因(yin)(yin)(yin)素(su)。