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茂縣機械密封失效、液膜空化與密封檢測

發布時間(jian):2022-01-06 10:35:45 人氣:123473 來源(yuan):

  一、茂縣機械密封失效


  對于茂縣機械密封元件來說,使用平均壽命為2~3年,茂縣機械密封失效會降低試件的使用壽命。失效主要原因為動環與靜環的擠壓磨損故障。茂縣機械密封失效原因(yin)包括化學損壞(huai)、熱(re)損壞(huai)和機械損壞(huai),表現為磨(mo)損、腐蝕和過熱(re)等。


  密封沖洗系統存在的問題及密封腔溫度過高是造成茂縣機械密封失效的主要原因,應及時進行工件檢測(壓力、溫度、磨損)、維護管理,改善工作環境。主要的問題有:壽命難以預測、突發性失效等,摩擦茂縣機械密封的實際磨(mo)損情(qing)況(kuang)和端面狀態還(huan)未得到有(you)效的解(jie)釋研究。


  二、液膜空化


  液膜(mo)是端面間維(wei)持(chi)一(yi)層極薄的液體(ti)膜(mo),具有密(mi)封(feng)(feng)的作(zuo)用,同時具有液膜(mo)動壓(ya)力與靜(jing)壓(ya)力,起到平(ping)衡(heng)壓(ya)力潤滑(hua)端面作(zuo)用。液膜(mo)空(kong)化指液膜(mo)局部氣化形成氣泡,進一(yi)步產生空(kong)蝕。液膜(mo)空(kong)化的產生對液膜(mo)壓(ya)力的載荷、分(fen)布(bu)及穩定性(xing)有較大影響。密(mi)封(feng)(feng)界面間膜(mo)厚分(fen)布(bu)說明密(mi)封(feng)(feng)端面綜合變(bian)形在徑向上不是線性(xing)分(fen)布(bu)。


  對于液膜空化的研究:空化現象在一定程度上存在,這是端面張開的重要原因,對減少端面泄漏和摩擦有一定作用。李振濤等基于JFO空化模型和坐標變換建立其數學模型,并利用有限體積法離散解,表明空化壓力的增加可以提高液膜承載力,但增加幅度較小,對摩擦力矩的影響可以忽略。然而,在液膜發生嚴重氣蝕時,會導致流體動力潤滑失效和壁面氣蝕,影響密封性能和密封材料的使用壽命。孟祥凱等分析了擾動條件下空化對茂縣機械密封動力學的影響。劉鳴等基于馬爾可夫空化算法求解了考慮空化效應的動載滑動軸承液膜動態特性,證實了空化因子會影響液膜的動態特性。茂縣機械密封空(kong)化的理論(lun)模型和實驗研究還很不成熟(shu)和完善。為了有效(xiao)控制(zhi)氣(qi)蝕(shi)程度(du),提高密(mi)封(feng)性能(neng),避(bi)免氣(qi)蝕(shi)引(yin)起的失效(xiao)和氣(qi)蝕(shi),必須深(shen)入研究氣(qi)蝕(shi)的影(ying)響因(yin)素及其相互關(guan)系。

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  三、密封檢測


  由于茂縣機械密封件(jian)裝配復雜,不(bu)能多次拆卸,如何在(zai)(zai)(zai)不(bu)影(ying)響(xiang)作(zuo)業前(qian)(qian)提下進(jin)(jin)(jin)(jin)行(xing)密(mi)(mi)(mi)(mi)(mi)封檢(jian)測(ce)(ce)(ce)。首先(xian),要明確發(fa)生泄(xie)漏(lou)(lou)的(de)(de)(de)幾個(ge)常見階段:測(ce)(ce)(ce)試時的(de)(de)(de)泄(xie)漏(lou)(lou)量(liang)(liang)、運轉(zhuan)時的(de)(de)(de)周期性(xing)泄(xie)漏(lou)(lou)量(liang)(liang)、突發(fa)情況時的(de)(de)(de)泄(xie)漏(lou)(lou)量(liang)(liang)。對于密(mi)(mi)(mi)(mi)(mi)封的(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)(ce),主(zhu)要通過振動信號頻(pin)譜,從外部(bu)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)內部(bu)的(de)(de)(de)壓(ya)力(li)(li)溫(wen)(wen)度(du)變化,在(zai)(zai)(zai)使(shi)用前(qian)(qian)工(gong)件(jian)運行(xing)的(de)(de)(de)參數(shu)要在(zai)(zai)(zai)規定值以(yi)下,并監測(ce)(ce)(ce)回(hui)轉(zhuan)體(ti)本身偏差在(zai)(zai)(zai)運轉(zhuan)中引起的(de)(de)(de)滲漏(lou)(lou),有(you)必要了(le)解操作(zuo)條(tiao)件(jian)、溫(wen)(wen)度(du)、壓(ya)力(li)(li)等,以(yi)及對輔助密(mi)(mi)(mi)(mi)(mi)封膨脹的(de)(de)(de)具體(ti)影(ying)響(xiang)。依據(ju)密(mi)(mi)(mi)(mi)(mi)封介(jie)質的(de)(de)(de)形(xing)狀、狀態和工(gong)作(zuo)條(tiao)件(jian)進(jin)(jin)(jin)(jin)行(xing)選擇后,制定相應的(de)(de)(de)操作(zuo)規程(cheng),規定沖洗(xi)時間、介(jie)質和溫(wen)(wen)度(du)控制范圍(wei)。試運行(xing)過程(cheng)中,根據(ju)試運行(xing)效果(guo)進(jin)(jin)(jin)(jin)行(xing)合(he)理的(de)(de)(de)參數(shu)調(diao)整,在(zai)(zai)(zai)端(duan)面間通過氣壓(ya)或(huo)循環液進(jin)(jin)(jin)(jin)行(xing)密(mi)(mi)(mi)(mi)(mi)封檢(jian)測(ce)(ce)(ce);可結合(he)關閉泵的(de)(de)(de)閥門形(xing)成封閉腔室(shi)進(jin)(jin)(jin)(jin)行(xing)密(mi)(mi)(mi)(mi)(mi)封測(ce)(ce)(ce)試。引入有(you)限(xian)差分(fen)(fen)法(fa)、有(you)限(xian)元、流體(ti)力(li)(li)學(xue)等方法(fa)進(jin)(jin)(jin)(jin)行(xing)模擬測(ce)(ce)(ce)試。實(shi)際檢(jian)測(ce)(ce)(ce)方法(fa)有(you)熱電偶(ou)測(ce)(ce)(ce)溫(wen)(wen)法(fa)(溫(wen)(wen)度(du))、微型壓(ya)力(li)(li)傳感器(qi)(壓(ya)力(li)(li))、電容法(fa)(間隙)。在(zai)(zai)(zai)正常運行(xing)狀態下繼續(xu)觀(guan)察密(mi)(mi)(mi)(mi)(mi)封效果(guo)和存在(zai)(zai)(zai)的(de)(de)(de)問題,進(jin)(jin)(jin)(jin)一(yi)步進(jin)(jin)(jin)(jin)行(xing)調(diao)整,充分(fen)(fen)考慮各種因(yin)素,綜合(he)分(fen)(fen)析(xi)介(jie)質、壓(ya)力(li)(li)、密(mi)(mi)(mi)(mi)(mi)封面、密(mi)(mi)(mi)(mi)(mi)封形(xing)式等條(tiao)件(jian)。根據(ju)磨損(sun)痕(hen)跡分(fen)(fen)析(xi)故(gu)障(zhang)原因(yin),并考慮腐蝕、橡膠密(mi)(mi)(mi)(mi)(mi)封圈(quan)失效等因(yin)素。