一、雙塔機械密封失效

　　對于雙塔機械密封元件來說，使用平均壽命為2~3年，雙塔機械密封失效會降低試件的使用壽命。失效主要原因為動環與靜環的擠壓磨損故障。雙塔機械密封失效原因包括化學損壞(huai)、熱(re)損壞(huai)和機械損壞(huai)，表現為(wei)磨損、腐蝕和過熱(re)等(deng)。

　　密封沖洗系統存在的問題及密封腔溫度過高是造成雙塔機械密封失效的主要原因，應及時進行工件檢測(壓力、溫度、磨損)、維護管理，改善工作環境。主要的問題有：壽命難以預測、突發性失效等，摩擦雙塔機械密封的實際磨(mo)損情況和端面狀態還未(wei)得(de)到有效的解釋(shi)研究(jiu)。

　　二、液膜空化

　　液(ye)(ye)膜是(shi)端(duan)面(mian)間維持一(yi)層極薄的(de)(de)液(ye)(ye)體(ti)膜，具有密封(feng)的(de)(de)作(zuo)用(yong)，同時具有液(ye)(ye)膜動壓(ya)(ya)力(li)與(yu)靜壓(ya)(ya)力(li)，起(qi)到平衡壓(ya)(ya)力(li)潤滑端(duan)面(mian)作(zuo)用(yong)。液(ye)(ye)膜空化指液(ye)(ye)膜局(ju)部(bu)氣化形(xing)成氣泡，進一(yi)步(bu)產生空蝕。液(ye)(ye)膜空化的(de)(de)產生對液(ye)(ye)膜壓(ya)(ya)力(li)的(de)(de)載荷、分布(bu)及(ji)穩定性(xing)有較大影(ying)響。密封(feng)界面(mian)間膜厚分布(bu)說(shuo)明密封(feng)端(duan)面(mian)綜合變形(xing)在徑向上(shang)不是(shi)線性(xing)分布(bu)。

　　對于液膜空化的研究：空化現象在一定程度上存在，這是端面張開的重要原因，對減少端面泄漏和摩擦有一定作用。李振濤等基于JFO空化模型和坐標變換建立其數學模型，并利用有限體積法離散解，表明空化壓力的增加可以提高液膜承載力，但增加幅度較小，對摩擦力矩的影響可以忽略。然而，在液膜發生嚴重氣蝕時，會導致流體動力潤滑失效和壁面氣蝕，影響密封性能和密封材料的使用壽命。孟祥凱等分析了擾動條件下空化對雙塔機械密封動力學的影響。劉鳴等基于馬爾可夫空化算法求解了考慮空化效應的動載滑動軸承液膜動態特性，證實了空化因子會影響液膜的動態特性。雙塔機械密封空化的理論模型和(he)實驗研究還很不成熟和(he)完善。為了有(you)效(xiao)控制氣(qi)蝕(shi)(shi)程度，提高密封性能，避免氣(qi)蝕(shi)(shi)引起的失(shi)效(xiao)和(he)氣(qi)蝕(shi)(shi)，必須深入研究氣(qi)蝕(shi)(shi)的影響因(yin)素及其相互關系。

　　三、密封檢測

　　由于雙塔機械密封件(jian)裝(zhuang)配復雜(za)，不能多(duo)次(ci)拆卸，如何在(zai)(zai)不影響作(zuo)(zuo)業前(qian)提(ti)下進行(xing)(xing)密(mi)(mi)(mi)(mi)封(feng)(feng)檢測(ce)(ce)(ce)。首先(xian),要(yao)明確(que)發(fa)生泄(xie)漏(lou)(lou)的(de)(de)(de)(de)幾個常見階段(duan)：測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)時的(de)(de)(de)(de)泄(xie)漏(lou)(lou)量、運(yun)轉時的(de)(de)(de)(de)周期性泄(xie)漏(lou)(lou)量、突(tu)發(fa)情況時的(de)(de)(de)(de)泄(xie)漏(lou)(lou)量。對于密(mi)(mi)(mi)(mi)封(feng)(feng)的(de)(de)(de)(de)檢測(ce)(ce)(ce)，主要(yao)通過振動信號頻譜，從外(wai)部(bu)檢測(ce)(ce)(ce)內部(bu)的(de)(de)(de)(de)壓(ya)(ya)力(li)溫(wen)度變(bian)化，在(zai)(zai)使用前(qian)工(gong)件(jian)運(yun)行(xing)(xing)的(de)(de)(de)(de)參數要(yao)在(zai)(zai)規定(ding)值(zhi)以下，并(bing)監測(ce)(ce)(ce)回轉體本身偏差(cha)在(zai)(zai)運(yun)轉中引(yin)起的(de)(de)(de)(de)滲漏(lou)(lou)，有必要(yao)了解(jie)操(cao)作(zuo)(zuo)條(tiao)(tiao)件(jian)、溫(wen)度、壓(ya)(ya)力(li)等(deng)，以及對輔助密(mi)(mi)(mi)(mi)封(feng)(feng)膨脹的(de)(de)(de)(de)具體影響。依據密(mi)(mi)(mi)(mi)封(feng)(feng)介(jie)質的(de)(de)(de)(de)形(xing)狀、狀態和工(gong)作(zuo)(zuo)條(tiao)(tiao)件(jian)進行(xing)(xing)選擇后，制(zhi)定(ding)相應(ying)的(de)(de)(de)(de)操(cao)作(zuo)(zuo)規程，規定(ding)沖洗時間(jian)、介(jie)質和溫(wen)度控制(zhi)范(fan)圍(wei)。試(shi)(shi)(shi)運(yun)行(xing)(xing)過程中，根據試(shi)(shi)(shi)運(yun)行(xing)(xing)效(xiao)果進行(xing)(xing)合理的(de)(de)(de)(de)參數調整，在(zai)(zai)端面(mian)間(jian)通過氣壓(ya)(ya)或(huo)循環液(ye)進行(xing)(xing)密(mi)(mi)(mi)(mi)封(feng)(feng)檢測(ce)(ce)(ce);可結合關閉泵(beng)的(de)(de)(de)(de)閥門形(xing)成封(feng)(feng)閉腔室進行(xing)(xing)密(mi)(mi)(mi)(mi)封(feng)(feng)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)。引(yin)入(ru)有限(xian)(xian)差(cha)分法、有限(xian)(xian)元、流(liu)體力(li)學(xue)等(deng)方法進行(xing)(xing)模擬(ni)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)。實際檢測(ce)(ce)(ce)方法有熱電偶(ou)測(ce)(ce)(ce)溫(wen)法(溫(wen)度)、微(wei)型壓(ya)(ya)力(li)傳感器(壓(ya)(ya)力(li))、電容法(間(jian)隙(xi))。在(zai)(zai)正常運(yun)行(xing)(xing)狀態下繼續(xu)觀察密(mi)(mi)(mi)(mi)封(feng)(feng)效(xiao)果和存在(zai)(zai)的(de)(de)(de)(de)問題，進一步(bu)進行(xing)(xing)調整，充分考慮各種因素(su)(su)，綜合分析介(jie)質、壓(ya)(ya)力(li)、密(mi)(mi)(mi)(mi)封(feng)(feng)面(mian)、密(mi)(mi)(mi)(mi)封(feng)(feng)形(xing)式等(deng)條(tiao)(tiao)件(jian)。根據磨(mo)損痕跡分析故障原因，并(bing)考慮腐(fu)蝕、橡膠(jiao)密(mi)(mi)(mi)(mi)封(feng)(feng)圈失效(xiao)等(deng)因素(su)(su)。