一、天山機械密封失效

　　對于天山機械密封元件來說，使用平均壽命為2~3年，天山機械密封失效會降低試件的使用壽命。失效主要原因為動環與靜環的擠壓磨損故障。天山機械密封失效原因包括化(hua)學(xue)損(sun)壞、熱損(sun)壞和(he)機械損(sun)壞，表現為磨損(sun)、腐蝕和(he)過熱等。

　　密封沖洗系統存在的問題及密封腔溫度過高是造成天山機械密封失效的主要原因，應及時進行工件檢測(壓力、溫度、磨損)、維護管理，改善工作環境。主要的問題有：壽命難以預測、突發性失效等，摩擦天山機械密封的實(shi)際磨損情況和端面(mian)狀態還未得(de)到有(you)效的解釋研究。

　　二、液膜空化

　　液(ye)(ye)膜(mo)是端(duan)面間維持(chi)一層極(ji)薄的(de)(de)(de)液(ye)(ye)體膜(mo)，具(ju)(ju)有密(mi)封的(de)(de)(de)作用(yong)，同時具(ju)(ju)有液(ye)(ye)膜(mo)動壓(ya)力與(yu)靜壓(ya)力，起(qi)到平衡壓(ya)力潤(run)滑端(duan)面作用(yong)。液(ye)(ye)膜(mo)空(kong)(kong)化(hua)指(zhi)液(ye)(ye)膜(mo)局(ju)部氣(qi)化(hua)形(xing)成氣(qi)泡，進一步(bu)產(chan)生空(kong)(kong)蝕。液(ye)(ye)膜(mo)空(kong)(kong)化(hua)的(de)(de)(de)產(chan)生對液(ye)(ye)膜(mo)壓(ya)力的(de)(de)(de)載荷、分(fen)布及穩(wen)定性(xing)有較大影響。密(mi)封界(jie)面間膜(mo)厚分(fen)布說明密(mi)封端(duan)面綜(zong)合變形(xing)在(zai)徑向上(shang)不(bu)是線性(xing)分(fen)布。

　　對于液膜空化的研究：空化現象在一定程度上存在，這是端面張開的重要原因，對減少端面泄漏和摩擦有一定作用。李振濤等基于JFO空化模型和坐標變換建立其數學模型，并利用有限體積法離散解，表明空化壓力的增加可以提高液膜承載力，但增加幅度較小，對摩擦力矩的影響可以忽略。然而，在液膜發生嚴重氣蝕時，會導致流體動力潤滑失效和壁面氣蝕，影響密封性能和密封材料的使用壽命。孟祥凱等分析了擾動條件下空化對天山機械密封動力學的影響。劉鳴等基于馬爾可夫空化算法求解了考慮空化效應的動載滑動軸承液膜動態特性，證實了空化因子會影響液膜的動態特性。天山機械密封空(kong)化的(de)理論模型和(he)實驗研(yan)究還很不成熟(shu)和(he)完(wan)善(shan)。為了(le)有(you)效控(kong)制氣(qi)蝕(shi)程度，提高密封性(xing)能(neng)，避免氣(qi)蝕(shi)引起(qi)的(de)失效和(he)氣(qi)蝕(shi)，必須深入研(yan)究氣(qi)蝕(shi)的(de)影(ying)響因素(su)及(ji)其相互關系。

　　三、密封檢測

　　由于天山機械密封件裝配復雜，不能多次(ci)拆卸(xie)，如何(he)在(zai)(zai)(zai)不影響作(zuo)(zuo)業前(qian)提下(xia)進(jin)(jin)(jin)行(xing)(xing)密(mi)封(feng)檢(jian)(jian)測(ce)。首先,要(yao)明確發(fa)生泄(xie)漏(lou)的(de)(de)幾個常見階段：測(ce)試時的(de)(de)泄(xie)漏(lou)量(liang)、運轉(zhuan)時的(de)(de)周期性泄(xie)漏(lou)量(liang)、突發(fa)情況時的(de)(de)泄(xie)漏(lou)量(liang)。對(dui)(dui)于密(mi)封(feng)的(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)，主要(yao)通過(guo)振動信號(hao)頻(pin)譜，從(cong)外部(bu)檢(jian)(jian)測(ce)內部(bu)的(de)(de)壓(ya)(ya)(ya)(ya)力溫度(du)變化，在(zai)(zai)(zai)使用前(qian)工(gong)件運行(xing)(xing)的(de)(de)參數要(yao)在(zai)(zai)(zai)規定(ding)值以(yi)下(xia)，并(bing)監測(ce)回(hui)轉(zhuan)體(ti)本身偏差(cha)(cha)在(zai)(zai)(zai)運轉(zhuan)中引起的(de)(de)滲漏(lou)，有(you)必要(yao)了(le)解操作(zuo)(zuo)條件、溫度(du)、壓(ya)(ya)(ya)(ya)力等(deng)，以(yi)及對(dui)(dui)輔助(zhu)密(mi)封(feng)膨(peng)脹的(de)(de)具體(ti)影響。依據(ju)(ju)密(mi)封(feng)介(jie)質的(de)(de)形(xing)狀(zhuang)、狀(zhuang)態和(he)(he)工(gong)作(zuo)(zuo)條件進(jin)(jin)(jin)行(xing)(xing)選擇后(hou)，制定(ding)相應的(de)(de)操作(zuo)(zuo)規程，規定(ding)沖洗(xi)時間(jian)(jian)、介(jie)質和(he)(he)溫度(du)控(kong)制范圍。試運行(xing)(xing)過(guo)程中，根據(ju)(ju)試運行(xing)(xing)效(xiao)果進(jin)(jin)(jin)行(xing)(xing)合理的(de)(de)參數調(diao)整，在(zai)(zai)(zai)端面間(jian)(jian)通過(guo)氣(qi)壓(ya)(ya)(ya)(ya)或循(xun)環液進(jin)(jin)(jin)行(xing)(xing)密(mi)封(feng)檢(jian)(jian)測(ce);可結合關閉(bi)泵的(de)(de)閥門形(xing)成封(feng)閉(bi)腔室進(jin)(jin)(jin)行(xing)(xing)密(mi)封(feng)測(ce)試。引入有(you)限(xian)(xian)差(cha)(cha)分(fen)法(fa)、有(you)限(xian)(xian)元、流體(ti)力學等(deng)方(fang)(fang)法(fa)進(jin)(jin)(jin)行(xing)(xing)模擬測(ce)試。實際檢(jian)(jian)測(ce)方(fang)(fang)法(fa)有(you)熱(re)電(dian)偶測(ce)溫法(fa)(溫度(du))、微型壓(ya)(ya)(ya)(ya)力傳感器(壓(ya)(ya)(ya)(ya)力)、電(dian)容(rong)法(fa)(間(jian)(jian)隙)。在(zai)(zai)(zai)正(zheng)常運行(xing)(xing)狀(zhuang)態下(xia)繼(ji)續觀察密(mi)封(feng)效(xiao)果和(he)(he)存在(zai)(zai)(zai)的(de)(de)問題，進(jin)(jin)(jin)一步進(jin)(jin)(jin)行(xing)(xing)調(diao)整，充分(fen)考(kao)(kao)慮各種因(yin)素(su)，綜(zong)合分(fen)析(xi)介(jie)質、壓(ya)(ya)(ya)(ya)力、密(mi)封(feng)面、密(mi)封(feng)形(xing)式等(deng)條件。根據(ju)(ju)磨損痕跡分(fen)析(xi)故障原(yuan)因(yin)，并(bing)考(kao)(kao)慮腐蝕(shi)、橡(xiang)膠密(mi)封(feng)圈失(shi)效(xiao)等(deng)因(yin)素(su)。