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新絳機械密封失效、液膜空化與密封檢測

發布(bu)時間:2022-01-06 10:35:45 人氣(qi):116934 來(lai)源:

  一、新絳機械密封失效


  對于新絳機械密封元件來說,使用平均壽命為2~3年,新絳機械密封失效會降低試件的使用壽命。失效主要原因為動環與靜環的擠壓磨損故障。新絳機械密封失效原因包(bao)括化學損(sun)壞、熱損(sun)壞和(he)機(ji)械損(sun)壞,表現為磨損(sun)、腐蝕(shi)和(he)過熱等。


  密封沖洗系統存在的問題及密封腔溫度過高是造成新絳機械密封失效的主要原因,應及時進行工件檢測(壓力、溫度、磨損)、維護管理,改善工作環境。主要的問題有:壽命難以預測、突發性失效等,摩擦新絳機械密封的實際磨損(sun)情況和端(duan)面(mian)狀(zhuang)態還未得到有效(xiao)的解釋研究。


  二、液膜空化


  液(ye)(ye)(ye)膜(mo)(mo)是端(duan)面(mian)間維持(chi)一(yi)層極(ji)薄的(de)液(ye)(ye)(ye)體膜(mo)(mo),具有(you)密封(feng)的(de)作(zuo)用,同時具有(you)液(ye)(ye)(ye)膜(mo)(mo)動壓(ya)力(li)與靜壓(ya)力(li),起到平衡壓(ya)力(li)潤滑(hua)端(duan)面(mian)作(zuo)用。液(ye)(ye)(ye)膜(mo)(mo)空(kong)化指液(ye)(ye)(ye)膜(mo)(mo)局(ju)部氣(qi)化形(xing)成氣(qi)泡,進一(yi)步產生空(kong)蝕。液(ye)(ye)(ye)膜(mo)(mo)空(kong)化的(de)產生對液(ye)(ye)(ye)膜(mo)(mo)壓(ya)力(li)的(de)載(zai)荷、分(fen)布及穩定性有(you)較大影響。密封(feng)界面(mian)間膜(mo)(mo)厚分(fen)布說明密封(feng)端(duan)面(mian)綜合變形(xing)在徑向(xiang)上不是線性分(fen)布。


  對于液膜空化的研究:空化現象在一定程度上存在,這是端面張開的重要原因,對減少端面泄漏和摩擦有一定作用。李振濤等基于JFO空化模型和坐標變換建立其數學模型,并利用有限體積法離散解,表明空化壓力的增加可以提高液膜承載力,但增加幅度較小,對摩擦力矩的影響可以忽略。然而,在液膜發生嚴重氣蝕時,會導致流體動力潤滑失效和壁面氣蝕,影響密封性能和密封材料的使用壽命。孟祥凱等分析了擾動條件下空化對新絳機械密封動力學的影響。劉鳴等基于馬爾可夫空化算法求解了考慮空化效應的動載滑動軸承液膜動態特性,證實了空化因子會影響液膜的動態特性。新絳機械密封空化(hua)的理論模(mo)型和(he)實驗研究(jiu)還很不成熟和(he)完(wan)善(shan)。為(wei)了有效控制(zhi)氣蝕程度,提高密(mi)封性能,避免氣蝕引起(qi)的失效和(he)氣蝕,必(bi)須深入研究(jiu)氣蝕的影響因素(su)及其相互關(guan)系。

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  三、密封檢測


  由于新絳機械密封件(jian)(jian)裝配復雜,不能多次拆卸,如何在(zai)不影(ying)響(xiang)作(zuo)(zuo)業前提下(xia)(xia)進行(xing)(xing)(xing)(xing)密(mi)(mi)(mi)封(feng)(feng)檢測(ce)。首先,要(yao)明(ming)確(que)發生泄(xie)(xie)漏的(de)(de)幾個常(chang)見(jian)階段:測(ce)試時的(de)(de)泄(xie)(xie)漏量、運(yun)(yun)轉時的(de)(de)周(zhou)期性(xing)泄(xie)(xie)漏量、突發情況時的(de)(de)泄(xie)(xie)漏量。對(dui)于密(mi)(mi)(mi)封(feng)(feng)的(de)(de)檢測(ce),主(zhu)要(yao)通過(guo)振動信(xin)號頻譜,從外部(bu)檢測(ce)內部(bu)的(de)(de)壓(ya)力(li)溫度(du)變化,在(zai)使用前工件(jian)(jian)運(yun)(yun)行(xing)(xing)(xing)(xing)的(de)(de)參(can)數要(yao)在(zai)規(gui)定值以(yi)下(xia)(xia),并(bing)監(jian)測(ce)回(hui)轉體本身偏差(cha)在(zai)運(yun)(yun)轉中引起的(de)(de)滲漏,有(you)必要(yao)了(le)解操(cao)作(zuo)(zuo)條件(jian)(jian)、溫度(du)、壓(ya)力(li)等,以(yi)及對(dui)輔助密(mi)(mi)(mi)封(feng)(feng)膨(peng)脹的(de)(de)具(ju)體影(ying)響(xiang)。依據(ju)密(mi)(mi)(mi)封(feng)(feng)介質的(de)(de)形狀(zhuang)、狀(zhuang)態和(he)(he)工作(zuo)(zuo)條件(jian)(jian)進行(xing)(xing)(xing)(xing)選擇后,制(zhi)定相應的(de)(de)操(cao)作(zuo)(zuo)規(gui)程,規(gui)定沖洗時間(jian)(jian)、介質和(he)(he)溫度(du)控制(zhi)范(fan)圍。試運(yun)(yun)行(xing)(xing)(xing)(xing)過(guo)程中,根(gen)據(ju)試運(yun)(yun)行(xing)(xing)(xing)(xing)效果(guo)(guo)進行(xing)(xing)(xing)(xing)合理(li)的(de)(de)參(can)數調整,在(zai)端(duan)面間(jian)(jian)通過(guo)氣壓(ya)或循環(huan)液進行(xing)(xing)(xing)(xing)密(mi)(mi)(mi)封(feng)(feng)檢測(ce);可結(jie)合關閉(bi)泵(beng)的(de)(de)閥門形成(cheng)封(feng)(feng)閉(bi)腔(qiang)室進行(xing)(xing)(xing)(xing)密(mi)(mi)(mi)封(feng)(feng)測(ce)試。引入有(you)限差(cha)分法(fa)、有(you)限元、流體力(li)學(xue)等方法(fa)進行(xing)(xing)(xing)(xing)模(mo)擬(ni)測(ce)試。實際檢測(ce)方法(fa)有(you)熱電偶測(ce)溫法(fa)(溫度(du))、微型(xing)壓(ya)力(li)傳感器(qi)(壓(ya)力(li))、電容法(fa)(間(jian)(jian)隙)。在(zai)正常(chang)運(yun)(yun)行(xing)(xing)(xing)(xing)狀(zhuang)態下(xia)(xia)繼續(xu)觀察密(mi)(mi)(mi)封(feng)(feng)效果(guo)(guo)和(he)(he)存(cun)在(zai)的(de)(de)問(wen)題,進一步進行(xing)(xing)(xing)(xing)調整,充分考(kao)慮(lv)各種(zhong)因(yin)(yin)素,綜合分析介質、壓(ya)力(li)、密(mi)(mi)(mi)封(feng)(feng)面、密(mi)(mi)(mi)封(feng)(feng)形式等條件(jian)(jian)。根(gen)據(ju)磨損痕跡分析故障原(yuan)因(yin)(yin),并(bing)考(kao)慮(lv)腐蝕、橡(xiang)膠密(mi)(mi)(mi)封(feng)(feng)圈失效等因(yin)(yin)素。